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日本AITEC艾泰克Aitec LED高輝度照明箱 TLBC1系列 高輝度化制品,應(yīng)用于有色工件的檢查亦可威力全發(fā) ●采用高亮度LED發(fā)光體、搭載獨(dú)自開發(fā)之光學(xué)系統(tǒng)?散熱結(jié)構(gòu)的直線式光源 ●替代更換金屬鹵素?zé)?線性光導(dǎo)纜照射架構(gòu)－實(shí)績豐富 ●搭載全新概念冷卻機(jī)構(gòu),大大抑制冷卻氣流對工件的影響
更新時(shí)間：2024-07-12
日本AITEC艾泰克頻閃式電源 TPDS1系列 高輝度化制品,應(yīng)用于有色工件的檢查亦可威力全發(fā) ●采用高亮度LED發(fā)光體、搭載獨(dú)自開發(fā)之光學(xué)系統(tǒng)?散熱結(jié)構(gòu)的直線式光源 ●替代更換金屬鹵素?zé)?線性光導(dǎo)纜照射架構(gòu)－實(shí)績豐富 ●搭載全新概念冷卻機(jī)構(gòu),大大抑制冷卻氣流對工件的影響
更新時(shí)間：2024-07-12
日本AITEC艾泰克 手持式強(qiáng)光檢查燈LSP68x240W 高輝度化制品,應(yīng)用于有色工件的檢查亦可威力全發(fā) ●采用高亮度LED發(fā)光體、搭載獨(dú)自開發(fā)之光學(xué)系統(tǒng)?散熱結(jié)構(gòu)的直線式光源 ●替代更換金屬鹵素?zé)?線性光導(dǎo)纜照射架構(gòu)－實(shí)績豐富 ●搭載全新概念冷卻機(jī)構(gòu),大大抑制冷卻氣流對工件的影響
更新時(shí)間：2024-07-12
日本精工NSK頂針現(xiàn)場中心MT-3 強(qiáng)大的表面粗糙度、波紋度和臺階測量。支持多種參數(shù)，可同時(shí)分析多種標(biāo)準(zhǔn)。精密、緊湊、高性能的測量儀器，具有適用于所有應(yīng)用的出色可擴(kuò)展性。
更新時(shí)間：2024-07-12
日本kosakalab 表面粗糙度測量儀器SE800系列 強(qiáng)大的表面粗糙度、波紋度和臺階測量。支持多種參數(shù)，可同時(shí)分析多種標(biāo)準(zhǔn)。精密、緊湊、高性能的測量儀器，具有適用于所有應(yīng)用的出色可擴(kuò)展性。
更新時(shí)間：2024-07-12
日本kosakalab表面粗糙度測量儀器SE500A 強(qiáng)大的表面粗糙度、波紋度和臺階測量。支持多種參數(shù)，可同時(shí)分析多種標(biāo)準(zhǔn)。精密、緊湊、高性能的測量儀器，具有適用于所有應(yīng)用的出色可擴(kuò)展性。
更新時(shí)間：2024-07-12
日本kem廢氣氯化氫濃度計(jì) HL-36NS 該系統(tǒng)是通過添加選項(xiàng)可以測量三種液體和氣體樣品組合的系統(tǒng)。 液體樣品在濕法預(yù)處理后通過還原汽化法測量。 此外，通過增加金汞齊法，還原汽化金汞齊法可以實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的測量。 另一方面，對于氣體樣品，在用汞收集管對氣體中的汞進(jìn)行采樣后，將該汞收集管裝入汞收集管烘烤爐中，并通過MD中描述的汞收集管-熱汽化法進(jìn)行測量。 -700C. 你可以做到。
更新時(shí)間：2024-07-12
日本kem液體/氣體樣品汞分析儀 MD-700D 該系統(tǒng)是通過添加選項(xiàng)可以測量三種液體和氣體樣品組合的系統(tǒng)。 液體樣品在濕法預(yù)處理后通過還原汽化法測量。 此外，通過增加金汞齊法，還原汽化金汞齊法可以實(shí)現(xiàn)更準(zhǔn)確的測量。 另一方面，對于氣體樣品，在用汞收集管對氣體中的汞進(jìn)行采樣后，將該汞收集管裝入汞收集管烘烤爐中，并通過MD中描述的汞收集管-熱汽化法進(jìn)行測量。 -700C. 你可以做到。
更新時(shí)間：2024-07-12
日本kem液體試料中水銀測定裝置 MD-700A 該設(shè)備使用自然振動周期測量方法測量液體的密度和比重。它也可以用作密度計(jì)。本裝置內(nèi)置恒溫功能，可在任何溫度下測量密度和比重。測量所需的樣品體積約為 1 mL（手動注入時(shí)）。 最短測量時(shí)間約10秒（不使用粘度校正功能且樣品溫度穩(wěn)定時(shí)）。所有系統(tǒng)都配備了粘度校正功能。
更新時(shí)間：2024-07-12
日本kemEMS粘度計(jì)EMS-1000S 該設(shè)備使用自然振動周期測量方法測量液體的密度和比重。它也可以用作密度計(jì)。本裝置內(nèi)置恒溫功能，可在任何溫度下測量密度和比重。測量所需的樣品體積約為 1 mL（手動注入時(shí)）。 最短測量時(shí)間約10秒（不使用粘度校正功能且樣品溫度穩(wěn)定時(shí)）。所有系統(tǒng)都配備了粘度校正功能。
更新時(shí)間：2024-07-12
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